COSTANTINI, FELIPE
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 334
AS - Asia 175
EU - Europa 119
SA - Sud America 36
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 5
AF - Africa 2
OC - Oceania 1
Totale 672
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 333
BD - Bangladesh 46
SG - Singapore 45
GB - Regno Unito 40
IT - Italia 38
CN - Cina 37
BR - Brasile 31
HK - Hong Kong 22
DE - Germania 9
TR - Turchia 8
FR - Francia 7
RU - Federazione Russa 6
VN - Vietnam 6
FI - Finlandia 5
UA - Ucraina 5
SE - Svezia 4
CL - Cile 3
KR - Corea 3
AE - Emirati Arabi Uniti 2
BG - Bulgaria 2
ID - Indonesia 2
IN - India 2
PT - Portogallo 2
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
CH - Svizzera 1
HN - Honduras 1
JP - Giappone 1
MA - Marocco 1
SA - Arabia Saudita 1
VE - Venezuela 1
ZA - Sudafrica 1
Totale 667
Città #
Fairfield 40
Ashburn 33
Southend 28
Woodbridge 27
Singapore 25
Santa Clara 23
Hong Kong 22
Chandler 20
Wilmington 18
Ann Arbor 16
Dearborn 14
Seattle 14
Houston 13
San Jose 13
Cambridge 12
Hefei 10
Beijing 7
Jacksonville 7
Chicago 6
Florence 6
The Dalles 6
London 5
Rome 5
San Diego 5
São Paulo 5
Nyköping 4
Helsinki 3
Izmir 3
Los Angeles 3
Moscow 3
New York 3
Seoul 3
Betim 2
Bremen 2
Buffalo 2
Chiswick 2
Columbus 2
Dallas 2
Eugene 2
Grafing 2
Hanoi 2
Ho Chi Minh City 2
Las Vegas 2
Milan 2
Modena 2
Nanjing 2
Orem 2
Palermo 2
Princeton 2
Santiago 2
Sofia 2
Turin 2
Verona 2
Albuquerque 1
Alfenas 1
Bend 1
Bitonto 1
Blumenau 1
Boardman 1
Bologna 1
Bến Tre 1
Cape Town 1
Casablanca 1
Caxias do Sul 1
Charlotte 1
Chieti 1
Conceição da Feira 1
Coquimbo 1
Council Bluffs 1
Douglas 1
Dracena 1
Falkenstein 1
Fiorano Modenese 1
Fort Worth 1
Foz do Iguaçu 1
Fuyang 1
Garanhuns 1
Guangzhou 1
Hengshui 1
Hounslow 1
Huizhou 1
Indore 1
Istanbul 1
Jeddah 1
Joinville 1
Lauterbourg 1
Leawood 1
Logan 1
Ludhiana 1
Macaé 1
Maracaju 1
Miano 1
Nova Andradina 1
Nova Friburgo 1
Numana 1
Olinda 1
Ourinhos 1
Overland Park 1
Oxnard 1
Palmeira 1
Totale 491
Nome #
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization 355
Monitoring Stress-Induced Defects in HK/MG FinFETs Using Random Telegraph Noise 317
Totale 672
Categoria #
all - tutte 2.279
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.279


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2021/202235 0 3 0 3 0 4 1 2 4 4 10 4
2022/202345 2 4 3 2 5 7 5 9 7 0 0 1
2023/202421 0 2 3 4 4 2 0 3 0 1 0 2
2024/2025126 7 1 3 10 32 25 6 9 5 3 16 9
2025/2026196 8 3 10 7 7 6 19 8 19 11 33 65
2026/20279 9 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 672