COSTANTINI, FELIPE
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 307
AS - Asia 126
EU - Europa 92
SA - Sud America 36
AF - Africa 2
OC - Oceania 1
Totale 564
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 306
SG - Singapore 45
GB - Regno Unito 40
CN - Cina 34
BR - Brasile 31
HK - Hong Kong 22
IT - Italia 11
DE - Germania 9
TR - Turchia 8
FR - Francia 7
RU - Federazione Russa 6
VN - Vietnam 6
FI - Finlandia 5
UA - Ucraina 5
SE - Svezia 4
CL - Cile 3
KR - Corea 3
AE - Emirati Arabi Uniti 2
BG - Bulgaria 2
ID - Indonesia 2
IN - India 2
PT - Portogallo 2
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
CH - Svizzera 1
HN - Honduras 1
JP - Giappone 1
MA - Marocco 1
SA - Arabia Saudita 1
VE - Venezuela 1
ZA - Sudafrica 1
Totale 564
Città #
Fairfield 40
Southend 28
Woodbridge 27
Singapore 25
Ashburn 23
Hong Kong 22
Santa Clara 22
Chandler 20
Wilmington 18
Ann Arbor 16
Dearborn 14
Seattle 14
Houston 13
San Jose 13
Cambridge 12
Hefei 10
Jacksonville 7
Beijing 6
Chicago 6
The Dalles 6
Florence 5
London 5
San Diego 5
São Paulo 5
Nyköping 4
Helsinki 3
Izmir 3
Moscow 3
Seoul 3
Betim 2
Bremen 2
Chiswick 2
Columbus 2
Eugene 2
Grafing 2
Hanoi 2
Ho Chi Minh City 2
Modena 2
Nanjing 2
Orem 2
Princeton 2
Santiago 2
Sofia 2
Albuquerque 1
Alfenas 1
Blumenau 1
Boardman 1
Buffalo 1
Bến Tre 1
Cape Town 1
Casablanca 1
Caxias do Sul 1
Conceição da Feira 1
Coquimbo 1
Council Bluffs 1
Dallas 1
Dracena 1
Falkenstein 1
Fort Worth 1
Foz do Iguaçu 1
Fuyang 1
Garanhuns 1
Guangzhou 1
Hengshui 1
Hounslow 1
Huizhou 1
Indore 1
Istanbul 1
Jeddah 1
Joinville 1
Las Vegas 1
Lauterbourg 1
Leawood 1
Logan 1
Los Angeles 1
Ludhiana 1
Macaé 1
Maracaju 1
Nova Andradina 1
Nova Friburgo 1
Olinda 1
Ourinhos 1
Palmeira 1
Passo Fundo 1
Pekalongan 1
Poços de Caldas 1
Quilmes 1
Randolph Township 1
Redondo Beach 1
Ribeirão Preto 1
Rio de Janeiro 1
Rondonópolis 1
Salt Lake City 1
San Francisco 1
Santa Maria de Itabira 1
Sidoarjo 1
St Louis 1
St Petersburg 1
São Bernardo do Campo 1
São José de Piranhas 1
Totale 463
Nome #
Monitoring Stress-Induced Defects in HK/MG FinFETs Using Random Telegraph Noise 292
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization 277
Totale 569
Categoria #
all - tutte 2.096
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.096


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/20216 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 4 2
2021/202235 0 3 0 3 0 4 1 2 4 4 10 4
2022/202345 2 4 3 2 5 7 5 9 7 0 0 1
2023/202421 0 2 3 4 4 2 0 3 0 1 0 2
2024/2025126 7 1 3 10 32 25 6 9 5 3 16 9
2025/2026102 8 3 10 7 7 6 19 8 19 11 4 0
Totale 569