Relazione in Atti di Convegno: [15160] Home page tipologia

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 13.701 a 13.720 di 15.160
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Reliability aspects of GaN microwave devices 1-gen-2003 E., Zanoni; G., Meneghesso; Verzellesi, Giovanni; R., Pierobon; F., Rampazzo; Chini, Alessandro
An improved all-p-type multiguard termination structure for silicon radiation detectors 1-gen-2002 M., Boscardin; L., Bosisio; A., Candelori; G. F., Dalla Betta; S., Dittongo; P., Gregori; A., Litovchenko; C., Piemonte; I., Rachevskaia; S, Ronchin; Verzellesi, Giovanni; N., Zorzi
Measurements and simulations of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs 1-gen-2002 Mazzanti, Andrea; Verzellesi, Giovanni; Basile, Alberto Francesco; Canali, Claudio; G., Sozzi; R., Menozzi
Experimental and numerical analysis of gate- and drain-lag phenomena in AlGaAs/InGaAs PHEMTs 1-gen-2002 Basile, Alberto Francesco; Mazzanti, Andrea; E., Manzini; Verzellesi, Giovanni; Canali, Claudio; R., Pierobon; C., Lanzieri
Deep-level characterization in 6H-SiC JFETs by means of two-dimensional device simulations 1-gen-2002 Verzellesi, Giovanni; G., Meneghesso; Mazzanti, Andrea; Canali, Claudio; E., Zanoni
Numerical analysis of hot electron degradation modes in power HFETs 1-gen-2002 Mazzanti, Andrea; Verzellesi, Giovanni; Canali, Claudio; G., Sozzi; R., Menozzi
Experimental/numerical investigation of the physical mechanisms behind high-field degradation of power HFETs and their implications on device design 1-gen-2001 R., Menozzi; G., Sozzi; Verzellesi, Giovanni; Borgarino, Mattia; C., Lanzieri; Canali, Claudio
An all-p-type termination structure for silicon microstrip detectors 1-gen-2001 G. F., Dalla Betta; M., Boscardin; L., Bosisio; S., Dittongo; P., Gregori; I., Rachevskaia; Verzellesi, Giovanni; N., Zorzi
Compact modeling of n-side interstrip resistance in p-stop and p-spray isolated double-sided silicon microstrip detectors 1-gen-2000 Verzellesi, Giovanni; G. F., Dalla Betta; G. U., Pignatel
Self-limitation of edge-generated currents in single-sided microstrip detectors after type inversion 1-gen-1999 Verzellesi, Giovanni; G. F., Dalla Betta; M., Da Rold; G. U., Pignatel; A., Paccagnella; L., Bosisio
Gate-length dependence of bulk generation lifetime and surface generation velocity measurement in high-resistivity silicon using gated diodes 1-gen-2000 G. F., Dalla Betta; Verzellesi, Giovanni; M., Boscardin; G. U., Pignatel; L., Bosisio; G., Soncini
Charge preamplifier for hole collecting PIN diode and integrated tetrode N-JFET 1-gen-1999 A., Fazzi; G. U., Pignatel; G. F., Dalla Betta; M., Boscardin; V., Varoli; Verzellesi, Giovanni
New flax yarn cross-linked with citric acid by thermal treatment or by microwave irradiation 1-gen-2004 G., Gastaldi; E., Vismara; M., Comoli; G., Torri; Leonelli, Cristina; Veronesi, Paolo; G., Rondi; S., Maini
Thermo-mechanical analysis of microstructures for chemoresistive gas sensors 1-gen-1999 D., Giusti; Verzellesi, Giovanni; G. U., Pignatel
Development of silicon microheaters for chemoresistive gas sensors 1-gen-1999 S., Brida; L., Ferrario; F., Giacomozzi; D., Giusti; V., Guarnieri; B., Margesin; G. U., Pignatel; G., Soncini; A., Vasiliev; Verzellesi, Giovanni; M., Zen
Optimization of TMAH etching for MEMS 1-gen-1999 S., Brida; L., Ferrario; V., Guarnieri; F., Giacomozzi; B., Margesin; M., Paranjape; Verzellesi, Giovanni; M., Zen
Creazione di una vista globale d'impresa con il sistema MOMIS basato su Description Logics 1-gen-2000 Beneventano, Domenico; Bergamaschi, Sonia; S., Castano; A., Corni; R., Guidetti; G., Malvezzi; M., Melchiori; Vincini, Maurizio
Evaluation of thermal shock damage in refractory materials by ultrasonic pulse velocity testing 1-gen-2006 Leonelli, Cristina; Romagnoli, Marcello; Kamseu, Elie; Boccaccini, Dino Norberto; Veronesi, Paolo
Glass matrix composites with lead zirconate titanate particles processed by microwave heating 1-gen-2004 Veronesi, Paolo; Cannillo, Valeria; Leonelli, Cristina; E. J., Minay; A. R., Boccaccini
Modified Honeycomb Photonic Bandgap Fiber Effectively Single-Mode Regime: A Numerical Analysis 1-gen-2006 Vincetti, Luca; Maini, Moreno; Rosa, Lorenzo; Poli, F; Foroni, M; Cucinotta, A; Selleri, S.
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO15159
  • Contributo su VOLUME1
Autore
  • CUCCHIARA, Rita459
  • ZAMBONELLI, Franco281
  • SELMI, LUCA228
  • FANTUZZI, Cesare217
  • GUNDUZ, Deniz215
  • FERRARI, Fabrizio212
  • BERGAMASCHI, Sonia203
  • SECCHI, Cristian195
  • LARCHER, Luca186
  • PALESTRI, Pierpaolo176
Data di pubblicazione
  • 2020 - 20272920
  • 2010 - 20195605
  • 2000 - 20094757
  • 1990 - 19991488
  • 1980 - 1989359
  • 1970 - 197930
  • 1967 - 19691
Editore
  • Institute of Electrical and Elect...1382
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