Electrically active defects in Al2O3-InGaAs MOS stacks at cryogenic temperatures / La Torraca, P., Padovani, A., Wernersson, L., Cherkaoui, K., Hurley, P., Larcher, L.. - (2023). (2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop, IIRW 2023 South Lake Tahoe, CA, USA 08-12 October 2023) [10.1109/iirw59383.2023.10477706].
Electrically active defects in Al2O3-InGaAs MOS stacks at cryogenic temperatures
La Torraca, Paolo;Padovani, Andrea;Larcher, Luca
2023
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