Physical Modelling of Charge Trapping Effects / Buffolo, M., De Santi, C., Meneghesso, G., Meneghini, M., Zanoni, E., Zagni, N., Cioni, M., Chini, A., Puglisi, F.M., Pavan, P., Verzellesi, G. - In: Modeling of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors[s.l], 2025. - ISBN 9789819775057. - pp. 31-74 [10.1007/978-981-97-7506-4_2]
Physical Modelling of Charge Trapping Effects
Zanoni, Enrico;Zagni, Nicolo';Cioni, Marcello;Chini, Alessandro;Puglisi, Francesco Maria;Pavan, Paolo;Verzellesi, Giovanni
2025
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