Impact of OFF-State Stress on RON and VTH of 100-V GaN HEMTs Mimicking Monolithically-Integrated Half-Bridge Circuits / Modica, L., Zagni, N., Cioni, M., Capellini, G., Castagna, M.E., Giorgino, G., Iucolano, F., Verzellesi, G., Chini, A.. - (2025). (ESREF 2025 : 36th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis Bordeaux, France 10/25).

Impact of OFF-State Stress on RON and VTH of 100-V GaN HEMTs Mimicking Monolithically-Integrated Half-Bridge Circuits

Modica, Lorenzo;Zagni, Nicolo';Verzellesi, Giovanni;Chini, Alessandro
2025
2025
ESREF 2025 : 36th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Bordeaux, France
10/25
Modica, Lorenzo; Zagni, Nicolo'; Cioni, Marcello; Capellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Verzellesi, Gi...espandi
Impact of OFF-State Stress on RON and VTH of 100-V GaN HEMTs Mimicking Monolithically-Integrated Half-Bridge Circuits / Modica, L., Zagni, N., Cioni, M., Capellini, G., Castagna, M.E., Giorgino, G., Iucolano, F., Verzellesi, G., Chini, A.. - (2025). (ESREF 2025 : 36th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis Bordeaux, France 10/25).
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