Characterizing sample degradation from synchrotron based X-ray measurements of ultra-thin exfoliated flakes / Discala, M.F., Hsieh, V., Jessen, B.S., Gu, Y., Rizzo, D.J., Amontree, J.M., Yan, X., Wang, Q., Kapfer, M., Kim, T., Geiwitz, M., Natale, G., Pelliciari, J., Hone, J.C., Burch, K.S., Basov, D.N., Dean, C.R., Bisogni, V., Plumb, K.W.. - In: FRONTIERS IN ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 2673-9895. - 5:(2025), pp. 1-10. [10.3389/femat.2025.1572940]
Characterizing sample degradation from synchrotron based X-ray measurements of ultra-thin exfoliated flakes
Pelliciari, J.;
2025
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